Products

產(chǎn)品目錄

產(chǎn)品中心

您現(xiàn)在的位置：首頁(yè) > 產(chǎn)品展示 > > 無(wú)損檢測(cè) > GUT-6000B數(shù)字IC測(cè)試儀

數(shù)字IC測(cè)試儀

分享到：

GUT-6000B數(shù)字IC測(cè)試儀主要特點(diǎn)：

GUT-6000B一款臺(tái)式數(shù)字IC測(cè)試儀。為了自動(dòng)完成測(cè)試任務(wù)，GUT-6000B包含自動(dòng)搜索和循環(huán)測(cè)試等功能，以及自能化連續(xù)偵測(cè)壞損IC功能。自我診斷和過載保護(hù)功能使它更接近零維護(hù)，減少了用戶不必要的麻煩。

可測(cè)試1800多種常見的TTL和CMOS器件，真正在數(shù)字IC測(cè)試領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)一個(gè)機(jī)型測(cè)量所有器件的解決方案。

循環(huán)測(cè)試，自動(dòng)搜尋，自我診斷。過載保護(hù)，測(cè)量1800種設(shè)備

支持54/74系列TTL，支持4000和4500系列CMOS

測(cè)試管腳：28-pin

GUT-6000B產(chǎn)品規(guī)格：

產(chǎn)品規(guī)格：

測(cè)試范圍
	54/74 系列 TTL
	4000 及 4500 系列 CMOS
	DRIVE
量測(cè)種類
	約 1800 種
測(cè)試電壓
	2.5/3.0/3.3/5V DC
測(cè)試時(shí)間
	高測(cè)試速度，平均 0.6 秒可完成一個(gè) IC
使用電源
	交流 100V~240V +10%, 50/60Hz
尺寸及重量
	335(寬) x 105(高) x 300(長(zhǎng)) mm 約 1.5 公斤