DL850 示波記錄儀 |
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詳細(xì)介紹 |
DL850示波記錄儀系列是模塊化波形記錄儀,可以同時測量電壓、電流、應(yīng)變、加速度等多種信號。 DL850系列具有高速采樣、高絕緣耐壓、多通道測量等優(yōu)點,為節(jié)能領(lǐng)域的設(shè)備開發(fā)、評估和質(zhì)量控制提供強有力的支持。
超高速存儲記錄儀 · 高速(可達(dá)100MS/s)、高分辨率(zui高16位)、隔離(zui高1kV*1) · 多通道,多達(dá)128個電壓通道或128位邏輯輸入 · 能以100kS/s的速度在16個通道同時進(jìn)行連續(xù)硬盤記錄*2 · 監(jiān)視CAN總線、顯示趨勢波形(僅限D(zhuǎn)L850V) · 15個插拔模塊 *1.與隔離探頭(700929或701947)組合使用時 測量越來越快的變頻器信號 高速(100MS/s)、高分辨率(12位)、1kV絕緣測量。*
實例:以10MS/s和100MS/s的速度測量同一變頻器輸出波形。 DL850擁有15種*的插入式模塊,幾乎可滿足任何測量任務(wù)。 DL850除了向后兼容DL750的所有測量模塊外,又在產(chǎn)品線中增加了四個新的模塊。自由組合這些模塊后,不管是微弱電壓到高速、高壓信號都可測量。
更良好 – 更多的測量點 – zui多128 CH的電壓輸入和128位的邏輯輸入 使用16-CH電壓輸入模塊(掃描型*)時,即使16個通道全部使用,也能以10kS/s的采樣率進(jìn)行測量。使用8個輸入模塊插槽,DL850可執(zhí)行128CH的電壓測量。 邏輯輸入模塊能夠以高達(dá)10MS/s*的速度,測量從TTL電平到高電壓接點閉合的所有信號。通過八個邏輯模塊,DL850可以監(jiān)視并執(zhí)行128位的邏輯測量。 實例:測量多輸出電源 家用電子產(chǎn)品的電源輸出數(shù)量較多,需要控制各個輸出之間的順序。使用多通道模塊,就不再局限于電壓測量,只要一臺儀器就可以完成從PC控制信號到AC風(fēng)扇動作、每個部件的溫度,從低速至高速信號的所有測量。
以高采樣率捕捉耐久性測試中的突發(fā)現(xiàn)象 – 雙捕獲功能 進(jìn)行耐久性測試時,為能把握長時間的趨勢數(shù)據(jù),通常以低采樣速率采集趨勢數(shù)據(jù)。但突發(fā)的高速瞬時現(xiàn)象,需要用高采樣率來捕捉。 1. 縮放波形 - zui大采樣率為100kS/s時,可以邊進(jìn)行趨勢測量邊以zui高100MS/s的速度記錄5k~500kpts的高速觸發(fā)測量數(shù)據(jù),zui多可以記錄5000個現(xiàn)象。記錄長度為5-500k點。 2. 事件波形 - 顯示采集到高速波形時的時間。 3. 低速主波形 - zui高100 kS/s 以低速滾動模式顯示趨勢波形 4. 捕捉波形 - zui高100MS/s以高速觸發(fā)測量捕捉突發(fā)現(xiàn)象
實例:部件耐久測試 汽車以及其它交通運輸工具的部件對可靠性的要求非常高。在不同溫度環(huán)境下執(zhí)行連接器的振動試驗時,“雙捕獲”功能將發(fā)揮作用。 · 用高采樣速率準(zhǔn)確觀測震動 · 用低速采樣率確認(rèn)發(fā)生頻率 功能1: 回放過去的波形 – 歷史功能 執(zhí)行高速重復(fù)測量期間,當(dāng)您看到異?,F(xiàn)象并按停止鍵時,異常現(xiàn)象往往已從屏幕上消失。 通過歷史功能,可自動對大容量內(nèi)存進(jìn)行分割并自動保存多達(dá)5,000屏歷史波形,隨時可以回放這些波形。
搜索歷史波形
擁有豐富的觸發(fā)功能 簡單觸發(fā)&增強觸發(fā) DL除了提供易于使用的“簡單”觸發(fā)外,還有各種“增強”觸發(fā)功能,通過豐富的組合確保捕捉到想要的波形。 通過良好、易于理解的圖形用戶界面,可以直觀地設(shè)置增強觸發(fā)條件。
· 邊沿:在單一的觸發(fā)源的邊沿觸發(fā)(上升、下降、上升/下降) · 時間:按時間或固定間隔觸發(fā) 增強觸發(fā) · A -> B(N):滿足條件A后,條件B第N次得到滿足時觸發(fā) · A Delay B:滿足條件A并且時間已超過所設(shè)定的延遲量后,滿足條件B時觸發(fā) · Edge On A:在滿足觸發(fā)條件A的情況下,在另一個邊沿觸發(fā)的OR條件下觸發(fā) · OR:多個觸發(fā)源中只要滿足一個觸發(fā)條件就觸發(fā) · AND:多個觸發(fā)源的觸發(fā)條件都滿足時觸發(fā) · 周期:滿足波形周期的條件時觸發(fā) · 脈寬:在脈寬條件滿足時間和設(shè)置時間長度的條件下觸發(fā) · 波形窗口:通過生成的波形窗口時觸發(fā) 實例:“A Delay B”觸發(fā)設(shè)置屏幕(GUI)
波形窗口觸發(fā) 波形窗口觸發(fā)功能可用于診斷典型的電源故障,如瞬時斷電、電壓下降或浪涌。此外,還可以高效檢測頻率波動、電壓下降等現(xiàn)象(波形為40~1,000Hz的交流波形)。比較當(dāng)前波形與基準(zhǔn)波形(實時模板),如果當(dāng)前波形超出容許的范圍后觸發(fā)。基準(zhǔn)波形由前一波形實時自動生成。
動作觸發(fā) 捕捉到不常發(fā)生的現(xiàn)象時,可以使用“動作觸發(fā)”功能,觸發(fā)時執(zhí)行事先的多個動作。
優(yōu)異的抗噪聲性能 通過低噪聲設(shè)計實現(xiàn)了良好的抗干擾性能。變頻器電路中的浮動電壓切換波形也可準(zhǔn)確捕捉。
功能2: 實時噪聲抑制處理和功率運算 – 實時運算(/G3選件) DL850配備用于運算的DSP(數(shù)字信號處理器),捕捉波形期間可實時執(zhí)行通道間的運算。通道間的運算功能十分強大,可以按通道分別設(shè)置濾波運算。除FIR、IIR、高斯函數(shù)和移動平均濾波之外,還可以使用zui多30個公式,例如帶系數(shù)的四則運算、積分和微分、高階函數(shù)運算等。 · 顯示測量波形和運算波形的任意組合(總數(shù)zui多16個)。 · 可以設(shè)置無模塊通道。
通過豐富的函數(shù)功能可直接顯示想要的波形 – 用戶自定義運算(/G2選件) DL標(biāo)配四則運算、時移、FFT等運算功能,可以顯示消除偏置或去除延遲后的波形。此外,還增加了用戶自定義運算功能(/G2選件),可以將微積分、數(shù)字濾波等多種函數(shù)進(jìn)行組合并執(zhí)行運算。 用戶自定義運算的設(shè)置屏幕
自動提取振幅、頻率和其它參數(shù) – 波形參數(shù)和統(tǒng)計運算 在26種波形參數(shù)(波幅、頻率等)中,zui多可同時提取并顯示24個參數(shù)。菜單以圖標(biāo)列表的形式顯示,便于查看。
檢測和通知異常波形、判斷通過/不通過 - Go/NO-GO判斷 DL可以判斷波形或波形參數(shù)運算值滿足(GO)或不滿足(NO-GO)預(yù)設(shè)的條件。判斷測量結(jié)果時,將執(zhí)行預(yù)設(shè)動作,并向用戶通報觀測到的異常波形和通過/不通過判斷
支持多臺儀器同步測量 – IRIG輸入(/C20選件)
支持外部硬盤 – 外部硬盤接口(/HD0選件)
確認(rèn)遲滯和相位之間的關(guān)系 – XY顯示功能 通過X-Y顯示,可以確認(rèn)兩個信號之間的關(guān)系。此功能可用于測量兩個正弦波的相位角等。 X軸和Y軸的組合設(shè)置多達(dá)四種,可以同時顯示多個X-Y波形,這樣便于找到相互間的關(guān)系。 還可以同時觀測X-Y波形和正常T-Y波形(用電*和時間軸顯示波形)。 實例:磁體動態(tài)BH特性運算 使用DL850可以測量磁芯的電壓和電流,然后分析磁體磁通密度B和磁場強度H的遲滯。通過測量動態(tài)BH特性,可以評估磁致伸縮產(chǎn)生的能量損耗。
磁通密度:B = Integ (C1) / (K1*K2) 連接接口:
1. EXT I/O - 可輸出GO/NO-GO判斷結(jié)果,也可以通過開始/結(jié)束和其它其它外部信號控制儀器 2. 外部時鐘I/O (EXT CLK IN) - 根據(jù)外部信號執(zhí)行時鐘采樣(zui高9.5MHz)。 3. 外部觸發(fā)輸入(EXT TRIG IN) 4. 外部觸發(fā)輸出(EXT TRIG OUT) 5. 視頻信號輸出(VIDEO OUT) - 在外部RGB (XGA)顯示器上確認(rèn)波形。 6. USB-PC接口 - 可從PC控制儀器。 7. 以太網(wǎng)1000BASE-T - 標(biāo)配 8. GP-IB(可選) 9. IRIG(可選*2) - 輸入外部時間信號,實現(xiàn)多臺DL850同步。 10. 外部硬盤接口(可選*1) - 連接eSATA標(biāo)準(zhǔn)硬盤。 11. SD卡插槽 - 符合SD、SDHC標(biāo)準(zhǔn),標(biāo)配 12. USB外圍設(shè)備接口 - 支持USB存儲器、鍵盤和鼠標(biāo)輸入。
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